Interferenzkontrast-Röntgenmikroskopie
Projektleiter
Prof. Dr. Thomas Wilhein
Kooperationspartner
Dr. B. Kaulich (ELETTRA, Triest), Dr. J. Susini (ESRF, Grenoble), Dr. E. Di Fabrizio, (TASC-INFM, Triest), Dr. S. Cabrini (IESS, Rom)
Mittelgeber
European Synchrotron Radiation Facility (ESRF), Grenoble
Laufzeit
10/99 bis mind. 10/01 (vier Experimentierwochen)
Kurzfassung
Röntgenmikroskopie erlaubt die Abbildung kleiner Strukturen, z.B. von biologischen und bodenkundlichen Proben, mit Auflösungen bis ca. 30 nm (1 Nanometer = 10 E-9 m), also etwa eine Größenordnung besser als mit der Lichtmikroskopie möglich. Dabei wird Röntgenlicht mit Wel-lenlängen von etwa 0.3 nm - 4 nm verwendet, das z.B. von Synchrotronstrahlquellen emittiert wird. Um die im Röntgenbereich z.T. schwachen Kontraste der Aufnahmen aufgrund der geringen Absorption durch die Probe zu verbessern, wurde im Jahr 2000 in Zusammenarbeit mit den Kooperationspartnern erstmals der sog. "Differentielle Interferenzkontrast" im Bereich der Röntgenstrahlung erfolgreich eingesetzt. Hierbei konnten bisher Auflösungen von ca. 150 nm erreicht werden. Die weitere Verbesserung der Methode und die Anwendungen in verschiedenen Feldern (Biologie, Umwelt- und Bodenkunde, Materialwissenschaften) sind die aktuellen Arbeitsrichtungen. Die Experimente werden in enger Kooperation aller Partner vorbereitet und an der ESRF in Grenoble durchgeführt.
Publikationen
T. WILHEIN, B. KAULICH, E. DI FABRIZIO, F. ROMANATO, S. CABRINI, J. SUSINI
Differential interference contrast x-ray microscopy with submicron resolution
Appl. Phys. Lett 78 (14), 2082 (2001)
T. WILHEIN, B. KAULICH, J. SUSINI
Two zone plate interference contrast microscopy at 4 keV photon energy
Opt. Commun. 193 (6), 19 (2001)
B. KAULICH, T. WILHEIN, E. DI FABRIZIO, F. ROMANATO, M. ALTISSIMO, S. CABRINI, B. FAYARD, J. SUSINI
Differential interference contrast x-ray microscopy with zone plate doublets
subm. to JOSA A
Vorträge/Poster/Messen
T. WILHEIN, B. KAULICH, E. DI FABRIZIO, J. SUSINI
Differential interference contrast x-ray microscopy
Vortag (eingeladen), SPIE-Konferenz 4506, San Diego, 01.08.2001
