|
Stichworte zum Inhalt:
1 Vorbesprechung der Theorie und des Ablaufs und 4 4-stündige Versuche:
1) IC-Kennwerte: OPV durchmessen: DC- und AC-Parameter, Schmitt-Trigger und CMOS-Gatter durchmessen, Kennwerte ermitteln
2) OPV_REG: Regelungstechnische Grundschaltungen mit OPV's im Frequenz- und Zeitbereich analysieren, Vergleich von gemessenen, gerechneten und simulierten Bodediagrammen und Sprungantworten
3) KLSIG: Kleinsignalverhalten, 1- und 2-stufiger Verstärker, Arbeitspunkte bestimmen, Betriebsparameter und Bodediagramme von Vu messen, Gegenüberstellung Analyse/Simulation/Messung
4) KENNL: Kennlinien verschiedener Halbleiter-Bauelemente: Diode, Z-Diode, Tunneldiode, Shottky-Diode, Bipolartransistor, selbstsperrender FET, selbstleitender FET, n-Kanal-IGBT
5) Schaltverhalten: Spannungssättigung bei Übersteuerung, Kennlinie Uce(ü), Parameter durch Kurvenanpassung gewinnen, Schaltverlustleistung, Trajektorien bei kapazitiver und induktiver Last, Ermittlung von Schaltzeitkonstanten durch Kurvenanpassung, überlagerte gedämpfte Schwingungen
Sie können sich auch vom Hauptordner ausgehend einen Überblick über die Labormaterialien verschaffen.
|